Microscópio de força atómica Brooke/AFM Dimension Icon

Microscópio de força atômicaDimension

IconExcelente desempenho com modo de imagem inteligente( Scan Asyst)

Microscópio de força atómica e grande mesa de amostragem Bruker Dimension ®

Icon ™O microscópio de força atômica oferece aos pesquisadores da indústria e da investigação científica uma experiência de aplicação totalmente nova, com níveis mais elevados de desempenho, uma variedade de funções diferentes e opções de acessórios, testes poderosos e fácil operação.Através da reuniãoDimensionDécadas de experiência técnica do sistema, amplo feedback do cliente, combinando as necessidades de equipamento do setor industrial,

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Foi realizada uma inovação total. O novo projeto do sistema permite níveis mais elevados de baixa deriva e baixos níveis de ruído. Agora, os usuários podem obter imagens digitalizadas reais e precisas em apenas alguns minutos. Excelente desempenho·Só

Sensores especialmente projetados em circunstâncias de circuito fechado, Também é possível obter imagens de varredura de alta resolução de grandes amostras com níveis de ruído de anel aberto.·

Reduz ainda mais eficazmente os níveis de ruído, obtendo imagens de nível atômico no modo de contato, abaixo do 30pm·Baixa taxa de deriva térmica

200pm/

Minutos para obter imagens verdadeiras sem música Eficiência de detecção rápida e eficiente

· O novo design do scanner de circuito fechado XYZ permite que o instrumento trabalhe em velocidades de digitalização mais altas sem diminuir a qualidade da imagem e com maior eficiência de captura de dados.·Pré-configuração de parâmetros incorporado anos de experiência em pesquisa e desenvolvimento, novo

NanoS cope ® O software tem o modo experimental padrão.·câmeras de alta resolução e

X-Y

Localização para localizar as amostras de forma rápida e eficiente Forte versatilidade

· O espaço aberto entre a ponta da agulha e a amostra permite não apenas realizar vários experimentos padrão, mas também projetar seus próprios programas experimentais para atender às necessidades de diferentes trabalhos de pesquisa·Inovação contínua em tecnologia de hardware e software

HarmoniX Padrões que permitem medir as propriedades do material em nanoescala

·

Os usuários podem realizar medições e análises de dados semi-automáticas usando scripts de programa

Características do produto Alto desempenho e alta resoluçãoDimension ®Icon ™ É uma tecnologia inovadora da Brooke na tecnologia de varredura de ponta de agulha, com excelente resolução e

BrukerA combinação de algoritmos de varredura eletrônica exclusivos melhora significativamente a velocidade e a qualidade da medição.O sistema configura o sensor de posição de compensação de temperaturaZO eixo e 90 XYO baixo nível de ruído do eixo, aplicando este desempenho emNa faixa de varredura de mícrons e em grandes sistemas de mesa de amostragem, o efeito ultrapassa os níveis de ruído de anel aberto da maioria dos microscópios de força atômica de alta resolução.

XYZO novo design da cabeça de varredura de circuito fechado permite que o instrumento trabalhe em velocidades de varredura mais altas sem comprometer a qualidade da imagem, permitindo uma maior saída de coleta de dados.Configurado.BrukerdoPeakForce ®Tecnologia,

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Aquisição inteligente de imagens de alta resolução.

Imagem do átomo da mãe-nuvem obtida no modo de contato, velocidade de varredura 0,6 Hz Excelente desempenhoDimension O microscópio de força atômica Icon tornou-se um dos modelos de microscópio de força atômica mais populares no campo da pesquisa.UtilizaçãoDimensionIconNúmero de artigos publicados maior do que outras amostrasAFMMais.Dimension Icon

A introdução de novas tecnologias em plataformas operacionais originais demonstra maior desempenho e velocidades de medição mais rápidas. Seu fluxo de trabalho intuitivo de software torna seus processos operacionais mais avançados do que nuncaAFM Tecnologia é mais fácil.Agora...DimensionIconOs usuários obtêm resultados de medição de alta qualidade imediatamente sem precisar ajustar os parâmetros profissionais durante horas como antes.Dimension Icon

Cada aspecto, desde o espaço de amostra totalmente aberto para a ponta da agulha até a pré-configuração dos parâmetros do software, é especialmente projetado para alcançar uma operação acessível e impressionante.

AFM

Facilidade de uso.Interface do usuário Dimension IconAmpla aplicação e excelente desempenhoO Dimension Icon captura dados multicanal em alta velocidade para obter mais resultados de medição de alta qualidade. CombinaçãoBrukerMúltiplosAFM

técnicas e padrões, bem como padrões de melhoria funcional, Icon

O excelente desempenho do instrumento e o excelente desempenho de medição podem ajudá-lo a chegar a um nível superior nas áreas de nanopesquisa, pesquisa de materiais e muito mais.·Imagem de materiaisApoio para ICONBrukerdoPeakForce ONM™ O modo de imagem permite que os pesquisadores obtenham imagens morfológicas de alta resolução ao mesmo tempo que realizam testes de desempenho mecânico nanoquantitativo de amostras e obtenham imagens de alta resolução. Esta tecnologia tem uma ampla aplicação(Módulo de1MPaPara50GPa10A adesividade de10pNPara

μ N)

É possível caracterizar diferentes tipos de amostras.·Caracterização Elétrica

A caracterização elétrica é possível com maior sensibilidade e maior gama dinâmica. Combinar essas pesquisas com outras tecnologias, como: Dark Lift

Dados reais e sem ilusão obtidos no microscópio capacitivo de varredura, no microscópio de resistência de difusão de varredura e no microscópio de força atómica de corrente de túnel de ressonância inversa·NanomanipulaçãoManipulação nanométrica e gravura podem ser realizadas em níveis nanométricos e moleculares.Icon

do XYZ

Os scanners de circuito fechado permitem o posicionamento preciso da sonda sem efeitos de flutuação elétrica e ultra-baixo ruído e são adequados para qualquer sistema de nanomanipulação.·Aquecimento e resfriamentoUtilizaçãoAFMvarredura em diferentes modos ao mesmo tempo-35°CPara250°CControle de temperatura e análise térmica. O uso de sondas térmicas pode ser menor do que100nm

Aquecimento local da amostra, alcançando400°C- É.

Flexível.AFMPlataformaO Dimension Icon demonstra desempenho, estabilidade e flexibilidade excepcionais que permitem praticamente todas as medições que antes só poderiam ser feitas em sistemas especialmente concebidos. Usando uma plataforma aberta, suportes de amostras grandes ou múltiplos e muitas características fáceis de usar, coloqueAFM

A capacidade poderosa é totalmente demonstrada diante dos pesquisadores no campo da pesquisa científica e no campo da indústria, para a alta qualidade

AFM Imagens e nanooperações estabeleceram novos padrões.

A Dimension Icon oferece uma plataforma de flexibilidade que não afeta o desempenho, uma plataforma com possibilidades ilimitadas: ·Plataforma aberta que integra outras tecnologias·Software e hardware abertos para personalizar facilmente suas aplicações de pesquisa

- " Se não existe, invente-a.

"·Soluções completas para pesquisas de baterias, energia solar orgânica, etc. Esquerda: na caixa das luvasAFM-Raman juntos.

Direita: condução de luzAFMAcessórios.

UsarAFMAmplie suas aplicaçõesCom um conjunto completo de excelentesAFM

Modo de imagem, a Brooke oferece o que você precisa para cada estudoAFMTecnologia.

Com base nos modos de imagem do núcleo (modo de contato e modo de toque), o conjunto completo oferecido pela BrookeAFM

O modo de teste permite que o usuário detecte as propriedades elétricas, magnéticas e outras ricas da amostra. A nova tecnologia de pico de pressão da Brooke, como um novo modelo de imagem central, foi aplicada a vários modelos de medição para fornecer simultaneamente dados morfológicos, elétricos e mecânicos.

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Exemplos de dados:

Esquerda: syndiotactic no modo Tapping

Imagem em círculo fechado de polipropileno. Alcance de varredura: 5 μm.

Direita: Estudo de dinâmica de cristalização de polipropileno Syndiotactic: O polímero ontológico é aquecido rapidamente a partir da temperatura ambiente (esquerda) para um estado de fusão total de 160 ℃. A 128 ° C promove o equilíbrio do cristal isotérmico e forma um cristal maior do que o cristal estratificado original. A imagem à direita mostra uma imagem parcialmente cristalizada de 101 minutos.

Esquerda: imagem de ciclo fechado do DNA no ar. Alcance de varredura: 2μm, taxa de varredura: 4.88Hz

Médio: imagem AFM de C36H74 no HOPG. Espaço claramente visível da estrutura laminar, consistente com o espaço de comprimento (± 4,5 nm) sob a configuração de cadeia C36H74 totalmente expandida