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Ganwo Indústria (Xangai) Co., Ltd.
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Microscópio de força atómica Park Systems XE7

Modelo
Natureza do fabricante
Produtores
Categoria do produto
Local de origem
Visão geral
Microscópio de força atômica Park Systems XE7,** a escolha econômica para o estudo. Parâmetros principais: amostra mesa de movimento: 13 mm * 13 mm tamanho da amostra: diâmetro ≤ 100 mm, espessura ≤ 20 mm localização ruído de detecção: Z ≤ 0,03 (típico) 0,05 (máximo) Categoria de origem: instrumentos de importação
Detalhes do produto

*** Alto desempenho

Entre produtos semelhantes, o Park XE7 oferece medições de alta resolução em nanoescala. Graças à arquitetura única do microscópio de força atômica, o scanner flexível independente do eixo XY e do eixo Z, o XE7 permite medições de varredura suaves, ortogonais e lineares, permitindo imagens e características de amostras de medição. Além disso, o True exclusivo do Park

Non-Contact ™ O modo também lhe dá um efeito de imagem incrível, e a resolução da sonda não será afetada após várias digitalizações.

Atender às necessidades atuais e futuras

no parque

Com a ajuda do XE7, o presente e o futuro estão sob o seu controle. O Park XE7 vem com o modo de medição da indústria***. Estes modelos atendem não apenas às suas necessidades atuais, mas também às necessidades em constante mudança do futuro. Além disso, o XE7 tem um design aberto no mercado* que lhe permite integrar outros acessórios e instrumentos para atender às suas necessidades especiais de pesquisa.

Fácil de usar e alta produtividade

O Park XE7 possui uma interface gráfica de usuário simples e ferramentas de automação que permitem a digitalização de amostras até mesmo para iniciantes. Seja uma sonda pré-alinhada, uma simples substituição de amostras e sondas, uma fácil alinhada a laser, uma visão coaxial de cima para baixo e um controlo de varredura e processamento de software fácil de usar, o XE7 contribui para a eficiência da pesquisa.

A economia ultrapassa os custos do sistema

O Park XE7 não é apenas um microscópio de força atômica de nível de pesquisa de alto custo-benefício, mas também um microscópio de força atômica de baixo custo de uso. True no Park XE7Non-Contact ™ O modo permite que os usuários não precisem substituir as sondas dispendiosas com frequência** e, com muitos modos de varredura disponíveis na indústria*, oferece excelente compatibilidade para que você possa atualizar as funcionalidades do sistema a qualquer momento para prolongar a vida útil do produto. O Park XE7 está equipado com o Park

Toda a tecnologia da Systems e o preço é muito amigável. O XE7 também tem cuidado com os detalhes e é ideal para ajudá-lo a realizar pesquisas com precisão e sem exceder o orçamento.

Parâmetros técnicos

XYScanner

Scanner XY flexível de módulo único controlado em circuito fechado.

Alcance de varredura: 50 μm x 50 μm (opcional)

100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )

Z

Scanner

Scanner flexível de alta força

Alcance de varredura: 12 μm (opcional 25)

μm)

Banco de amostras

Área de trabalho do XY:

13 × 13 mm

Área de trabalho do Z:

29.5 mm

Distância de trabalho da mesa de foco: 70 mm

Sistema óptico

Sistema óptico coaxial de visão direta para amostras e sondas

Objetivo 10X (20X opcional)

Campo de visão: 480 × 360 μm

CCD: 1M pixel (resolução de pixel: 0,4 μm)

Sistema de circuito

DSP de alto desempenho

: 600 MHz with 4800 MIPS