Microscópio de força atômica Park NX10

Ideal para pesquisas inovadoras

O Park NX10 oferece-lhe dados de alta resolução em nanoescala que você pode confiar, usar e possuir. Desde a configuração de amostras até imagens, medições e análises de digitalização completa, o Park NX10 garante que você se concentre em pesquisas inovadoras.Ao mesmo tempo, fornece dados de alta precisão.

Medição de alta precisão

O detector Z de baixo ruído mede com precisão a superfície do microscópio de força atômica

· Exata varredura XY eliminando a interferência do scanner

O modo True Non-ContactTM garante a melhor vida útil da sonda, varredura de alta resolução e proteção das amostras

· Funcionalidades de hardware e software personalizadas

Detector Z de baixo ruído para o microscópio de força atômica Park NX10

O detector de eixo Z é uma das principais tecnologias do novo microscópio de força atômica da série NX. É o inovador sensor de tensão da Park. Com um baixo nível de ruído de 0,2 A, o salto tornou-se o detector de eixo Z mais baixo na indústria. O baixo ruído permite que o detector do eixo Z funcione como sinal morfológico padrão e as diferenças entre o novo microscópio de força atômica da série NX e as gerações anteriores podem ser facilmente observadas. Se o ruído do detector do eixo Z for muito alto, o usuário não poderá observar os degraus atômicos do chip de zafir. O sinal de altura emitido pelo detector do eixo Z do microscópio de força atómica da série Park NX apresenta o mesmo nível de ruído que a tensão do eixo Z.

Substituição simples de sondas e amostras

O design patenteado permite que você substitua facilmente novas sondas e amostras do lado com a mão. Com a instalação de um braço pré-alinhado na pinça de sonda de braço, não há necessidade de trabalhos complicados de calibração a laser.

Acesso automático rápido como um raio

A função de inserção automática de amostras da sonda permite que o usuário não precise de intervenções. Monitorando a reação do braço perto da superfície,O Park NX10 é capaz de iniciar e concluir automaticamente as operações de inserção de amostras de sonda em dez segundos após o carregamento do braço. O rápido feedback de informações dos scanners de eixo Z de alta velocidade e o processamento de sinais de baixo ruído dos controladores eletrônicos NX permitem um rápido acesso à superfície da amostra sem intervenção do usuário.

Parâmetros técnicos do Park NX10

Scanner

Scanner Z

Scanner flexível de alta potência

Escala de digitalização15 µm (30 µm opcional)
Alto nível de ruído do sinal: 30 horas
0,5 kHz largura de banda, rms (típico)

Scanner XY

Guia flexível para controle de circuito fechadoScanner XY

Escala de digitalização: 50 µm × 50 µm
(可选10 µm × 10 µm 或 100 µm × 100 µm)

Mesa de accionamento

Alcance do percurso da mesa de deslocamento Z: 25 mm (motorizado)
Alcance do percurso da mesa de amostra de foco: 15 mm (motorizado)
Deslocamento XY: 20 mm x 20 mm (Motorizado)

Estante de amostras

Tamanho da amostra:Espaço aberto até 100 mm x 100 mm, 厚度 até 20 mm
Peso da amostra :< 500=''>

Óptica

10x (0,23 N.A.) lente de longa distância de trabalho (resolução de 1 µm)
Imagem coaxial intuitiva da superfície da amostra e do braço
Visão480 x 360 µm (com objetivo 10 vezes maior)
CCD: 1 megapixel, 5 megapixels (opcional)

Software

O SmartScan™

Software especializado para controle de sistemas AFM e coleta de dados
Configuração rápida do modo inteligente e imagem fácil
Uso avançado do modo manual e controle de varredura mais preciso

XEI

Software de análise de dados AFM

eletrônica

Integração

Amplificador de fase de bloqueio digital de 4 canais
Calibração do coeficiente de elasticidade(Método quente, opcional)
DadosQ Controle

Conectar sinais externos

20 portas de entrada/saída incorporadas
5 saídas TTL: EOF, EOL, EOP, modulação e pressão parcial AC