Microscópio eletrônico de varredura FlexSEM 1000

A Hitachi Hightech lançou em 15 de abril de 2016 um novo microscópio eletrônico de varredura, o FlexSEM 1000. O produto é compacto, ocupa uma pequena área, mas não perde resolução em grandes eletroscópios, e é extremamente fácil de operar, quase sem treinamento. Design compacto com resolução de 4 nm.
O microscópio eletrônico de varredura permite observações de alta magnificação e análise elementar de alta precisão da superfície de materiais e tem amplas aplicações em áreas como nanotecnologia, ciências da vida, design de produtos e análise de falhas. Nos últimos anos, a necessidade de eletroscópios de varredura para observar estruturas finas de superfícies e análise elementar cresceu, e um número crescente de usuários deseja usar microscópios eletrônicos de varredura em espaços limitados, como linhas de produção, linhas de inspeção de qualidade e áreas de escritório. Portanto, o microscópio eletrônico de varredura de pequeno tamanho, fácil de operar e de alta resolução recebe muita atenção. O FlexSEM 1000 é de 450 mm de largura e 640 mm de comprimento, com 52% menos volume, 45% menos peso e 50% menos consumo de energia em comparação com o modelo SU1510 e uma interface de alimentação padronizada. O host e a unidade de alimentação podem ser separados e a instalação é muito flexível.
O FlexSEM 1000 é equipado com um sistema óptico eletrônico de última geração e um detector de alta confiabilidade e alta sensibilidade com resoluções de até 4 nm. O FlexSEM 1000 oferece múltiplas funcionalidades de automação e é fácil de operar para obter imagens de alta qualidade rapidamente, mesmo para os primeiros operadores. Além disso, o recém-desenvolvido recurso de navegação "SEM MAP" permite navegar com uma variedade de imagens ópticas ou fotográficas de eletroscópio, mudando rapidamente e com precisão para o campo de visão de alta magnificação de interesse com um clique.

Características:

a. Através de detectores eletrônicos secundários de alta sensibilidade, detectores de dispersão posterior, detectores de baixo vácuo (UVD)^*2), para observação de imagem de alta qualidade sob baixa tensão de aceleração / baixo vácuo

b. Fácil de operar, até mesmo novatos podem tirar imagens de alta qualidade

c. Funcionalidade de navegação recém-desenvolvida "SEM MAP" para bloquear rapidamente o horizonte de visão

Janelas grandes (30 mm)²Sistema de espectroscopia SDD para análise rápida da composição dos elementos^*2

*1 Separe o host e a caixa de alimentação quando configurado no desktop

*2 Opcional

Projetos		Conteúdo
Capacidade de decomposição*3		4,0 nm @ 20 kV (SE: modo de alto vácuo) 15,0 nm @ 1 kV (SE: modo de alto vácuo) 5,0 nm @ 20 kV (BSE: modo de baixo vácuo)
Tensão acelerada		0.3 kV ～ 20 kV
Ampliar		6× - 300.000× (ampliação do filme) 16× - 800.000× (ampliação de exibição)
Modo de baixo vácuo		Faixa de vácuo: 6 a 100 Pa
Pistola eletrônica		Fio de lâmpada de tungstênio pré-pareado
Banco de amostras		Motor automático de 3 eixos X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90°
Tamanho máximo da amostra		Diâmetro 80 mm
Altura máxima da amostra		40 mm
Dimensões		Capacidade: 450 (W) x 640 (D) x 670 (H) mm Unidade de alimentação: 450 (W) x 640 (D) x 450 (H) mm
Opção do detector		Detector eletrônico secundário de baixa sensibilidade (UVD) Detector de raios-X disperso de energia (EDS)