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Microscópio eletrônico de varredura FEI Apreo Aplicações de ciência de materiais

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Microscópio eletrônico de varredura FEI Apreo Aplicações de ciência de materiais
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Apreo Aplicações de Ciência de Materiais

O SEM de alto desempenho mais rico em recursos


O revolucionário design de lentes compostas da Apreo combina as tecnologias de imersão eletrostática e magnética para gerar uma alta resolução e opções de sinal sem precedentes. Isso torna a Apreo a plataforma ideal para estudar nanopartículas, catalisadores, pó e nanodispositivos sem diminuir o desempenho das amostras magnéticas.

A Apreo se beneficia da detecção única de dispersão traseira dentro da lente, que oferece um contraste de material excepcional, mesmo em inclinação, distâncias de trabalho curtas ou para amostras sensíveis. A nova lente composta melhora ainda mais o contraste através da filtragem de energia e aumenta a filtragem de carga elétrica para imagens de amostras isolantes. O modo de baixo vácuo opcional, com uma pressão máxima de 500 Pa, permite a imagem dos isolantes mais exigentes.

Com essas vantagens, incluindo lentes finais compostas, detecção avançada e processamento flexível de amostras, a Apreo oferece excelente desempenho e versatilidade para ajudá-lo a enfrentar os desafios de pesquisa do futuro.



Experimente as vantagens do Apreo SEM

  • As lentes finais compostas exclusivas oferecem uma excelente resolução (1,0 nm a uma tensão de 1 kV) em qualquer amostra, mesmo em inclinação ou topografia, sem a necessidade de desaceleração do feixe de elétrons.
  • Detecção de dispersão de volta extremamente eficaz - um bom contraste de material é sempre garantido, mesmo quando amostras sensíveis ao feixe de eletrões são imagenadas com taxa de TV em baixa tensão e corrente de feixe de eletrões e em qualquer ângulo de inclinação.
  • Detectores extremamente flexíveis - combinam as informações fornecidas por cada seção do detector para obter contrastes ou intensidade de sinal essenciais.
  • Uma ampla variedade de estratégias de redução de carga elétrica, incluindo um modo de baixo vácuo com pressões no depósito de amostras de até 500 Pa, permite a imagem de qualquer amostra.
  • A plataforma de análise superior oferece alta corrente de feixe de eletrônicos e pequenas manchas ópticas. O armazém de amostras suporta três detectores EDS, EDS e EBSD combinados e um sistema de baixo vácuo otimizado para análise.
  • O processamento e a navegação das amostras são extremamente simples, com suporte de amostras multiusos e Nav-Cam+.
  • Oferece resultados de nível especializado para novos usuários com recursos avançados de orientação, predefinição e cancelamento do usuário.